1、采用恒定電流應(yīng)力對薄柵氧化層MOS電容進(jìn)行了TDDB評價實(shí)驗(yàn)，提出了精確測量和表征陷阱密度及累積失效率的方法。

2、結(jié)果表明，低粘度的油類在水流速度超過某一臨界值時發(fā)生了油層流失失效；高粘度的油類在水流速度超過某一臨界值時發(fā)生了臨界累積失效。【https://w w w .chazidian.com/zj-226211/積失造句】